Published Date: September - 2024 | Publisher: MIR | No of Pages: 240 | Industry: latest trending Report | Format: Report available in PDF / Excel Format
电子背散射衍射是一种基于扫描电子显微镜的微结构晶体学表征技术,常用于研究晶体或多晶材料。该技术可以提供有关材料中的结构、晶体取向、相或应变的信息。EDS 分析也称为能量色散 X 射线分析或能量色散 X 射线微分析。它是一种用于对样品进行元素分析或化学表征的分析技术。它依赖于某些 X 射线激发源和样品之间的相互作用。其表征能力在很大程度上归功于以下基本原理:每种元素都具有独特的原子结构,从而允许其 X 射线发射光谱上有一组独特的峰值。
波长色散 X 射线光谱 (WDXS 或 WDS) 是一种非破坏性分析技术,用于通过测量小波长范围内的特征 X 射线来获取有关一系列材料的元素信息。该技术生成的光谱中的峰值对应于特定的 X 射线线,并且可以轻松识别元素。WDS 主要用于化学分析、波长色散 X 射线荧光 (WDXRF) 光谱法、电子探针、扫描电子显微镜以及用于测试原子和等离子体物理的高精度实验。 X 射线荧光 (XRF) 光谱仪是一种 X 射线仪器,用于对岩石、矿物、沉积物和流体进行常规、相对无损的化学分析。其工作原理与电子探针 (EPMA) 类似,采用波长色散光谱原理。
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